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          接线端子老化的原因以及检测的方法分享

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          接线端子老化的原因


          通常来说 ,接线端子老化的原因主要有以下几个:


          1)环境和温度


          接线端子所在的外界环境和热源也会变成接线端子温度过高、绝缘击穿,乃至爆破起火。


          2)化学腐蚀


          接线端子外壳绝缘材料因长时间遭到化学腐蚀或电解腐蚀,导致保护层失效,绝缘下降,也会导致接线端子老化加重。


          3)长时间过负荷运转


          因为电流的热效应 ,负载电流通过接线端子时一定导致发热 ,从而使接线端子温度升高,而过高的温度会加快绝缘的老化 ,尤其在夏日,接线端子的老化会加重。


          接线端子老化测验规范


          GB/T14048.7 、IEC60947-7-1《低压开关设备和操控设备第7-1部分:辅助器材铜导体的接线端子排》


          1.规范规则了主要用于工业或类似用处的安装在支架上为铜导线提供电气衔接以及机械衔接的螺纹型或非螺纹型接线端子排的要求。


          2.规范适用于额外电压沟通不超越1000V、频率至1000Hz或直流不超越1500V电路中,用于衔接截面积为0.2mm~300mm(AWG24/600kcmil)通过或未通过特别加工的圆铜导线的接线端子排。


          接线端子老化测验办法


          1.将5个接线端子水平装在一个导轨上,采用额外截面积的导线进行衔接,衔接导线至少长300mm,然后丈量每个接线端子的电压降 ;


          2.老化箱内的温度下限和温度上限别离设置为20℃和75℃  ;


          3.升温阶段及到达高温度后10min的持续阶段 ,都有额外电流流过,这样,测验件将到达所容许的高工作温度,这里咱们要清楚的知道高大温度值是120℃。


          4.接下来为冷却过程,在每24个加热冷却循环后的冷却状态下,丈量一次电压降,整个测验过程共192个循环 。


          5.测验前电压降不能超越3.2mV,测验中及测验后电压降不得超越4.8mV,并且24个循环后的丈量值不得超越测验前初始值的1.5倍。


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